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首頁-譜標(biāo)服務(wù)-中心切割功能如何提高質(zhì)譜儀器分析效率
中心切割功能通過以下方式提高分析效率:
分離復(fù)雜組分
中心切割器可在色譜運行的特定時刻或時間段內(nèi),將一維色譜柱的流出物轉(zhuǎn)移至第二根具有不同固定相的色譜柱上進(jìn)行二次分離。例如在分析 117 種揮發(fā)性有機物(VOCs)時,由于這些物質(zhì)包含從 C到 C的碳?xì)浠衔?,若使用單一色譜柱,難以對輕、重?zé)N類都實現(xiàn)優(yōu)化分離。而采用 Deans Switch 中心切割技術(shù),可將輕烴組分切割至質(zhì)譜(MS)進(jìn)行分析,其余組分繼續(xù)在全二維色譜模塊中分離,從而提高分離效能。
提高分離效率和靈敏度
中心切割技術(shù)能將復(fù)雜樣品中的目標(biāo)組分有效分離和富集,減少共流出干擾,提高目標(biāo)組分的分離效率和檢測靈敏度。如在分析汽油中的含氧化物和芳烴時,利用中心切割技術(shù)可將不同沸點和極性的組分分別引入不同的色譜柱進(jìn)行分離檢測,避免了復(fù)雜基質(zhì)對目標(biāo)物的干擾,提高了檢測靈敏度。
縮短分析時間
通過中心切割,可將不同性質(zhì)的組分快速送至各自適宜的色譜柱進(jìn)行分離,無需等待整個樣品在一根色譜柱上完成全部分離過程,從而縮短了分析時間。例如在分析丁二烯抽提裝置尾氣全組成時,采用中心切割二維色譜系統(tǒng),將乙腈和碳四烴類組分分別在不同色譜柱上分離,優(yōu)化了柱溫條件,使碳四組分的分析時間縮短,同時提高了分離效果。
增強色譜柱使用壽命
中心切割技術(shù)可將部分組分分流至不同的色譜柱,避免某些組分對特定色譜柱的過度污染和損害,從而延長色譜柱的使用壽命。如在分析乙烯原料中的痕量氧化物和烴類成分時,通過將輕質(zhì)烴切割到第二色譜柱上,防止氧化物吸附到 PLOT 柱上,延長了色譜柱的使用壽命。
同時分析多種組分
在一次進(jìn)樣分析中,中心切割技術(shù)可實現(xiàn)對樣品中不同沸點范圍或性質(zhì)組分的同時分離和檢測,提高了分析效率。如在分析環(huán)境空氣中的含醛酮的 117 種揮發(fā)性有機物時,采用 GC-FID-MS 雙柱中心切割法,一次進(jìn)樣即可完成多種組分的分析
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